高分辨扫描探针显微镜（Oxford Instruments）
仪器测试功能：主要用于新型薄膜材料、低维材料、陶瓷和纳米粉体等在微纳米尺度的超高分辨形貌结构表征、纳米电学（压电响应、静电力、表面电势）和力学性能测试。仪器主要技术参数：1、扫描器：扫描器闭环噪音：X,Y轴闭环噪音<60p，在闭环条件下实现原子晶格的分辨率2、自动化控制：须通过软件控制马达驱动激光点在探针的位置调节，无需手动调节3、高压压电力显微镜模式：系统本身能直接输出高达150V的测试电压，能够在高压模...
设备来源：材料科学与工程学院
