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高分辨扫描探针显微镜(Oxford Instruments)

作者:    时间:2026-07-01     浏览:

仪器测试功能:

主要用于新型薄膜材料、低维材料、陶瓷和纳米粉体等在微纳米尺度的超高分辨形貌结构表征、纳米电学(压电响应、静电力、表面电势)和力学性能测试。

仪器主要技术参数:

1、扫描器:扫描器闭环噪音:X,Y轴闭环噪音<60p,在闭环条件下实现原子晶格的分辨率

2、自动化控制:须通过软件控制马达驱动激光点在探针的位置调节,无需手动调节

3、高压压电力显微镜模式:系统本身能直接输出高达150V的测试电压,能够在高压模式下实现双频共振追踪压电力显微镜模式、极化翻转谱压电力显微镜测试以及矢量压电力显微镜技术

4、测试电压须能够通过原子力显微镜主机的操作软件直接进行调节,其中在双频共振追踪压电力显微镜模式中,同时在共振峰的两侧施加两个振动频率以实时的追踪共振频率的变化

仪器主要应用领域:

1、材料表面纳米形貌直观观测成像

2、薄膜表面电学、力学微区性质测试

3、二维材料原子级表面结构表征分析


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