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校内联合设备

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材料深层结构表征分析设备(nanoVoxel3000)

仪器测试功能:适用于材料内部微观尺度上的三维结构表征,如孔隙、裂纹、夹杂等的三维空间分布展示。为材料在“多场耦合”环境下,原位性能的工艺 评价及新材料的研发提供了全新的无损检测技术手段。仪器主要技术参数:1、像素细节分辨能力:200nm(平板探测器) / 40nm(物镜耦合探测器)2、空间分辨率:500nm(平板探测器) / 500nm(物镜耦合探测器)3、成像面积:300mmX300mm4、像素矩阵:3000X30005、可检测样品尺寸:450mm×350mm(...

设备来源:材料科学与工程学院

元素分析仪(elementarUNICUBE)

仪器测试功能:元素分析仪主要用于分析材料中所含C\H\N\S\O元素的含量。仪器主要技术参数:1、测量范围: C: 0-14 mg (or 100%);N: 0-10mg (or 100%);H: 0-2 mg (or 100%);S: 0-3 mg (or 100%);O: 0-6 mg (or 100%)2、最高工作温度1200℃,锡纸燃烧瞬间可到1800℃3、8分钟实现 CHNS 同时分析,根据元素含量和样品量自动优化仪器主要应用领域:1、有机样品C/H/N/S元素定量检测2、能源生物质元素组分分析3、高分子材料元素配比测

设备来源:材料科学与工程学院

动态热力学分析仪(PE DMA8000)

仪器测试功能:主要用来测量各种材料宽范围内的黏弹性,可计算样品的储能模量、损耗模量和Tanδ。仪器主要技术参数:1、最大力18N;最小力0.0001N;2、模量范围103~3×1012Pa;3、频率范围0.01~200Hz;4、样品形变0.5~10000um;5、温度范围-150~600℃仪器主要应用领域:1、高分子材料玻璃化转变测定2、 橡塑材料温变力学性能分析3、复合材料模量阻尼性能测

设备来源:材料科学与工程学院

比表面及孔隙分布仪(美国麦克ASAP2460)

仪器测试功能:该系统可以用于全面地测定具有微孔的物质(如沸石,活性炭,催化剂等)的特性。该系统产生所需要的吸附和脱附数据,用于确定并给出要各种样品的比表面积、孔体积、平均孔径、孔径分布、微孔分布、吸附等温曲线等分析任务,满足GB/T19587-2018、SY/T6154-1995的标准。仪器主要技术参数:1、比表面积: >0.0001m2/g;2、孔径分析范围 :3.5Å to 5000 Å;3、孔体最小检测: 0.0001 cc/g detectable;4、微孔分辨率:0....

设备来源:材料科学与工程学院

高级旋转流变仪(Anton Paar MCR702e)

仪器测试功能:模块化智能型高级流变仪可应用于液体、软固体、半固体等样品的流变性质测定。可通过控制应力测试、控制转速测试、控制应变测试、蠕变/恢复测试、振荡测试(振幅扫描、频率扫描、温度扫描、时间扫描等)、触变性测试、屈服点测试等获得样品的粘度、剪切速率、剪切应力、弹性模量、粘性模量以及复合体系各组分间的稳态及动态流变特性等信息。仪器主要技术参数:1、产品最小扭矩:振荡模式0.5 nNm;旋转模式1 nNm2、...

设备来源:材料科学与工程学院

高速摄像系统(Vision Research Inc VEO 610L)

仪器测试功能:专为工业应用、科学研究、材料测试及运动分析设计,具有高分辨率、高速成像和可靠性,广泛应用于材料测试与冲击分析,记录材料在动态载荷下的破坏过程,如拉伸、压缩、冲击、爆炸等。仪器主要技术参数:1、传感器参数:单个像素物理尺寸不小于18µm×18µm;具备标准模式和binned模式,Binned模式下单像像素物理尺寸不小于36µmx36µm;CMOS 传感器对角线物理尺寸不小于 28 毫米;图像深度:不低于12位;2、采样率参数...

设备来源:材料科学与工程学院

多功能摩擦磨损试验机(Bruker(Malaysia)Sdn Bhd UMT TriboLab)

仪器测试功能:主要用于在微观及宏观尺度,研究评价各种材料、涂层和薄膜在各种工况下(润滑,高温,低温,湿度,腐蚀,真空)的摩擦、磨损和机械性能。仪器主要技术参数:1、集成高速、高扭矩、快速连接马达:最大扭矩>5Nm @100rpm, 2.5Nm @ 5,000rpm;2、试验机主机与计算机只通过一根USB线连接,采购人可使用笔记本电脑操控主机并运行试验。多个信号采集通道(可扩充至16个),16位数据采集卡,数据采集速率最高可达200KHz。...

设备来源:材料科学与工程学院

综合物性测量系统(Quantum Design Dynacool)

仪器测试功能:低温强磁场极端实验环境下对材料的电学、磁学、热学、光学等多种物理性能进行测试和分析。仪器主要技术参数:1、温度范围:1.8–400 K2、磁场范围:±9 T3、电阻测量精度:0.1% (R < 200 kΩ);0.2% (R > 200 kΩ)4、直流磁学测试灵敏度:≤10e-6 emu5、交流磁学测试灵敏度:10e-8 emu @ 10KHz仪器主要应用领域:1、超导材料低温电磁性能测试2、磁性材料磁学参数精准测定3、功能材料热电输运特性研

设备来源:材料科学与工程学院

X射线衍射仪(Bruker D8 Advance)

仪器测试功能:能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性、定量分析,薄膜材料的物相分析。仪器主要技术参数:1、X射线光管:Cu靶,陶瓷X光管:2.2 kW;2、2q转动范围:5~80°;3、焦斑大小:0.4 x 12 mm4、测角仪半径:≥240 mm,测角圆直径可连续改变5、最小步长:0.0001°,角度重现性:0.0001°仪器主要应用领域:1、 固体物相定性定量分析2、晶体晶粒尺寸应力测算3、 矿物与新材料结晶表

设备来源:材料科学与工程学院

激光拉曼光谱仪(日本Horiba LabRAM HR Evolution)

仪器测试功能:测量二维材料、碳材料、光催化材料、半导体材料、粉末材料等的拉曼光谱和荧光光谱,支持偏振模式的拉曼各项异性测量。可实现532nm、633nm、785nm激发时的快速拉曼成像,用于表征样品表面的结构特性。拥有标配的开放式显微镜,提供足够自由空间,适用于原位样品台,比如低温,高温,高压样品台。开放式显微镜与光谱仪刚性嵌入耦合,保证稳定性,采用调节物镜聚焦样品。本仪器优势在于:拉曼光谱技术:无损、非破坏...

设备来源:材料科学与工程学院

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