校内联合设备-湖北大学分析测试中心

仪器设备

校内联合设备

光电探测器光源系统（创锐光谱）

仪器测试功能：光电探测器光源系统作为一种具有时空分辨功能的高端显微成像与测试系统，能够测量时间空间分辨荧光和时间空间分辨光电流，通过该系统时空分辨成像，可以研究深入材料与器件荧光性能、微观结构、载流子复合过程、以及器件界面特性，具有常规测试设备无法比拟的优势。仪器主要技术参数：1、激光扫描振镜最短像素点停留时间：9.6 us（zoom=1）；2.1 us (zoom=32)2、载流子迁移成像分辨精度：≤100nm3、激光扫描振镜...

设备来源：材料科学与工程学院

光电传感器性能测试仪（半导体参数分析仪Keysight）

仪器测试功能：用于研究材料的电学特性随温度、光照等外部条件的变化规律，为新材料和新器件的商业化应用提供技术支持。仪器主要技术参数：1、4个SMU模块输出能力：20mA@±100V,20mA@±50V,50mA@±30V,100mA@±10V2、4个SMU模块最小测量分辨率：电流 10fA，电压 0.5uV3、电容测试模块测试频率范围：1kHz至5MHz，电容测试精度（1pF,1MHz）≤±0.26%仪器主要应用领域：1、半导体器件IV、CV电学参数测试2、光电传感器光响应特性精准表征...

设备来源：材料科学与工程学院

矢量电磁铁（东方晨景）

仪器测试功能：该设备用于测试磁电复合材料不同方向的磁电耦合特性，该设备可有效推动科研项目的进展。仪器主要技术参数：1、磁场强度：室温下不小于2T2、电流范围：不小于55A3、控制方式：触摸屏控制或者远程控制仪器主要应用领域：1、磁性材料磁滞与磁化特性测试2、磁光、自旋电子矢量磁场实验研究3、半导体霍尔效应与载流子磁学表

设备来源：材料科学与工程学院

高低温介电性能测试系统（研禾科技）

仪器测试功能：用于测试电子材料及无源电子元器件的介电常数、居里温度、阻抗及损耗。仪器主要技术参数：1、测试频率：20Hz-30MHz2、阻抗测量范围：25 mΩ至 40 MΩ3、基本阻抗测量精度：±0.08%仪器主要应用领域：1、电子陶瓷高低温介电温谱测定2、高分子绝缘材料耐热电学评价3、固态电解质宽温电学性能表

设备来源：材料科学与工程学院

霍尔效应测试系统（Lake Shore）

仪器测试功能：用于实验教学、材料生长和表征等方面，旨在增强学生的实践能力和科研人员的创新能力，促进学术成果的产出。仪器主要技术参数：1、迁移率测试范围：0.01-10^6 cm²/Vs2、温度：10-450K3、载流子浓度：800- 8×10^23 cm-3仪器主要应用领域：1、半导体载流子浓度迁移率测算2、薄膜材料导电类型判定分析3、功能半导体电学输运性能测

设备来源：材料科学与工程学院

矢量网络分析仪（Keysight）

仪器测试功能：主要用于射频微波领域的测量和分析，可用于研究材料的电磁特性，频率可达40 GHz。仪器主要技术参数：1、频率范围：100kHz至44GHz2、测试端口系统动态范围（10Hz中频带宽，指标值）：≥140dB@50MHz至6.5GHz,≥137dB@6.5GHz至17GHz，≥130dB@17GHz至25GHz, ≥122dB@25GHz至44GHz3、功率扫描范围：-60dBm至+10dBm@20GHz, -50dBm至+4dBm@40GHz仪器主要应用领域：1、射频器件阻抗与传输参数测试2、天线微波器件S参数性...

设备来源：材料科学与工程学院

频谱仪（频谱分析仪Keysight）

仪器测试功能：主要用于分析信号的频率成分，可用于分析电路中各种信号的频谱，帮助科研工作者优化电路参数，减少谐波失真、电磁干扰等问题，提高电路的性能和稳定性。仪器主要技术参数：1、频率范围：2 Hz-26.5 GHz2、相位噪声（载波1GHz，指标值）：≤-129dBc@10kHz频偏，≤-145dBc@1MHz频偏，≤-155dBc@10MHz频偏3、显示平均噪声电平（指标值）：前置放大器打开：≤-165dBm@1GHz,≤-163dBm@10GHz仪器主要应用领域：1、射频信...

设备来源：材料科学与工程学院

热重分析仪（TGA2)

仪器测试功能：主要用于材料的纯度、蒸发，升华，解吸附、热分解，裂解，解聚，降解、热稳定性、反应动力学及应用动力学的研究、氧化降解，氧化稳定性、组分分析等。仪器主要技术参数：1、温度范围：30-800℃；2、升温速率：5、10、20℃/min；3、反应气氛：氮气和空气；4、重量误差率：小于0.01mg仪器主要应用领域：1、材料热稳定性与热分解测试2、样品组分含量热失重分析3、填料、聚合物耐热性能评

设备来源：材料科学与工程学院

凝胶渗透色谱分析系统（LC-2050C LT）

仪器测试功能：测定有机大分子的分子量及分布等。仪器主要技术参数：1、溶剂流速（0.1-10mL/min）;2、温度范围（30-220℃）；3、40位自动进样器仪器主要应用领域：1、高分子分子量及分布测定2、聚合物支化度结构分析3、树脂合成产物组分表

设备来源：材料科学与工程学院

穆勒矩阵椭偏仪（SE-VM-L）

仪器测试功能：SE-VM 是一款超高精度快速测量光谱椭偏仪，其采用自主研发的椭偏创新技术，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度，微光斑，可视化调平系统等高兼容性灵活配置，多功能模块定制化设计。仪器主要技术参数：1、光谱范围： 380-1000nm 210-1650nm 193-1650nm 210-2500nm2、光斑尺寸： 200*500um 100*250um 40*80um3、入射角： 45°-90°,手动变角4、测量速度： ≦15s(...

设备来源：材料科学与工程学院

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