小角X射线散射仪(Xuess 2.0)

仪器测试功能：

主要用于材料大尺寸电子密度不均匀区域的分析。

仪器主要技术参数：

1、光斑大小：0.15～1.5 mm；

2、q_min ≤ 0.025nm-1；q_max ≥ 40nm-1；

3、最大测试粒径：≥ 340 nm

仪器主要应用领域：

1、 高分子微观相结构表征

2、 纳米材料尺寸分布测定

3、多孔材料孔结构精细分析