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光电传感器性能测试仪(半导体参数分析仪Keysight)

作者:    时间:2026-06-30     浏览:

仪器测试功能:

用于研究材料的电学特性随温度、光照等外部条件的变化规律,为新材料和新器件的商业化应用提供技术支持。

仪器主要技术参数:

1、4个SMU模块输出能力:20mA@±100V,20mA@±50V,50mA@±30V,100mA@±10V

2、4个SMU模块最小测量分辨率:电流 10fA,电压 0.5uV

3、电容测试模块测试频率范围:1kHz至5MHz,电容测试精度(1pF,1MHz)≤±0.26%

仪器主要应用领域:

1、半导体器件IV、CV电学参数测试

2、光电传感器光响应特性精准表征

3、微电子芯片漏电流与阈值电压检测


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